一、仪器用途
能快速准确地测量各类平面、球面、斜面等光学元件的相/绝对透射率及漫透射测量，可用于实时显示单、多点波长透过率数据及指定波段平均透过率数据、实时显示半透波长及斜率等。适用于手机盖板IR孔、隐藏孔（雾化孔、闪光灯孔）、弧形边IR孔、镀膜镜、胶合镜、平行平板、太阳膜、滤光片光学元件等的透光率测量。

二、仪器特点
1.采用积分球全角度采集全穿透式测量；
2.实时显示测量样品关注波长位置的透射率数据及半透波长监测，自动调整显示坐标范围，高效地进行批量样品检测及谱图对比分析；
3.检测时间毫秒级：高性能探测器，可在1秒内时间重现性高的测定；
4.可以自行定义测量的方案，同时设置判定标准，使检测更快速，结果更准确。

三、技术规格
测量系统：单光束
测量方式：积分球全角度采集全穿透式测量
检测器：Hamamatsu（薄型背照式FFT-CCD）
检出限：0.05%
光度准确性：﹤0.6%（410-1000nm）
光度重复性：0.2%
波长检测范围：380-1100nm
信噪比（全信号）：450:1
波长重复率：0.1nm
样品测试平台：X、Y轴可调
光源：高功率卤素光源
光斑直径：＜0.3mm
样品大小：≥0.5mm
测量时间：﹤1s
对焦方式：数字相机视频对焦
物镜：10X
软件：Qspec Suite V1.0，可显示单、多点波长数据，可手动和自动保存数据，自动统计所测产品批号总数、良品、不良品的数量及百分比并以报表的形式一键导出，可根据用户标准校准机差
操作系统/接口：Windows 7 / USB2.0